珠寶成分分析儀是具有一定能量分辨率的X射線探測器同時探測樣品所發(fā)出的各種能量特征X射線，探測器輸出信號幅度與接收到的X射線能量成正比，利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強度，對樣品進行定量，定性分析。
 

　　珠寶成分分析儀的技術原理：
 

　　待測樣品的一個穩(wěn)定的原子結構由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運轉，它們按不同的能量分布在不同的電子殼層，分布在同一殼層的電子具有相同的能量。
 

　　當具有高能量的入射(一次)X射線與原子發(fā)生碰撞時，會打破(待測樣品的)原子結構的穩(wěn)定性。處于低能量電子殼層(如:K層)的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來，電子的逐放會導致該電子殼層出現(xiàn)相應的電子空位，這時處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來補充相應的電子空位。由于不用電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量，這一個過程就是我們所說的X射線熒光(XRF)。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量--每種元素的發(fā)射強度與樣品中的元素含量成正比，通過預先設置好的校正曲線計算出來，可顯示其含量。